تجزیه و تحلیل نوعی لایه‌های اپتیکی

محققان دانشگاه فناوری‌های نوین سبزوار و دانشگاه شهید بهشتی در پژوهشی مشترک، موفق به تجزیه و تحلیل نانو سختی و نانو خراش لایه‌های نانو متری اپتیکی و فوق شفاف F:SiOx شدند.